Ученые из Физического института имени Лебедева (ФИАН) и конструкторы из компании "Институт рентгеновской оптики" (ИРО) создали минилабораторию для изучения наноструктур. Об этом сообщается в пресс-релизе института.
Прибор получил общее наименование X-Ray MiniLab. Его основное предназначение - изучение структур пленок нанометровой толщины, а также шероховатости поверхностей на том же масштабе. Новая система способна работать на нескольких длинах волн одновременно, а также проводить анализ большим количеством методов.
Создатели планируют "подгонять" каждый экземпляр под заказчика. То есть, теоретически, при заказе можно отказаться от некоторых функций, которые бы делали установку дороже. Ученые подчеркивают, что схема оказалась достаточно успешной - в настоящее время уже идут работы над первым коммерческим экземпляром минилаборатории.
Одним из основных методов, используемых минилабораторией, является рефлектометрия. Для определения характеристик границы раздела сред анализируется отраженное от нее излучение.
